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            晶圓微觀缺陷檢測


            我們的設備能力是基于快速和高精度而設計,領先的檢測能力滿足于半導體市場最嚴謹苛刻的應用,包括CMOS圖像傳感器、存儲器件、邏輯芯片、模擬芯片、MEMS、射頻、功率器件、汽車電子、Bumping、WLCSPFOWLP等。


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